Podczas badań nad nowym sposobem monitorowania korozji i pęknięć w reaktorach jądrowych, zespół badawczy MIT odkrył coś nieoczekiwanego. Odkryli, iż ich technika może być również wykorzystywana do precyzyjnego kontrolowania adekwatności materiału. Odkrycie to może mieć duży wpływ na mikroelektronikę nowej generacji.